Учебно-научный комплекс измерения параметров голограммных и дифракционных оптических элементов

Сайт посвещен изучению голограммных и дифракционных оптических элементов(ГОЭ-ДОЭ) в удаленном доступе.

На данном учебно-научном комплексе(УНК) исследуются параметры только фазовых ГОЭ-ДОЭ, характеризующихся поверхностным микрорельефом, имеющим нанометрический профиль.
Область применения ГОЭ-ДОЭ:

Дифракционные решетки, плоские микропризмы, плоские цилиндрические микролинзы, для деления и фокусировки лазерных и оптических пучков.
Микролинзовые растры для матричных лазерных излучателей и матричных приемников изображений.
Микропиксельные голограммные структуры для получения защитных голограмм.

Основные параметры фазовых ГОЭ-ДОЭ являются:

усредненная глубина поверхностного микро-нано рельефа;
интегральный коэффициент пропускания.

Основными характеристиками являются:

спектральный коэффициент пропускания;
топограмма глубины рельефа в плоскости элемента.

Пропустить доступные курсы

Оптико-электронный стенд мультиспектрального лазерного сканирования
Курс посвящен технологии ГОЭ и ДОЭ, схемам изготовления голограмм и компьютерной оптики.
В курс входит две лекции, три лабораторные работы, три симулятора на каждую лабораторную работу.
Электронная микроскопия
В курсе изложены основные моменты теории и практики формирования и исследований наноструктурированных материалов. Приведен анализ наноразмерных структур-особенностей их свойств, методов изготовления и возможностей применения в приборных устройствах. Приведена оценка различных технологических методов нанесения металлических и изоляционных слоев на поверхность опаловых матриц. Рассмотрены методы нанесения тонких пленок в вакууме и электрохимического осаждения на поверхность опаловых матриц.
В состав курса входит четыре лекции, три лабораторные работы, тест, учебное видео и симулятор микроскопа Carl Zeiss Evo MA 10.
В рамках курса возможно проведение сеансов обучения работе на микроскопе в соответствии с регламентом на оказание услуг.
Оптическая микроскопия
В курсе изложены основные моменты теории и представлены существующие микроскопы. Приведено описание принципа работы микроскопа и указаны методы световой микроскопии.
В курс входит две лекции, четыре лабораторные работы, тест на проверку знаний, одно учебное видео и симулятор микроскопа Carl Zeiss Axio Imager Z2 Vario.
В рамках курса возможно проведение сеансов обучения работе на микроскопе в соответствии с регламентом на оказание услуг.
Атомно-силовой микроскоп
В курсе описываются базовые моменты средств и методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Приведены характеристики методов и методик микроскопии.
В курс вошли одна лекция и одна лабораторная работа.
В рамках курса возможно проведение сеансов обучения работе на микроскопе в соответствии с регламентом на оказание услуг.