Добро пожаловать!

Сайт посвещен изучению голограммных и дифракционных оптических элементов(ГОЭ-ДОЭ) в удаленном доступе.

На данном учебно-научном комплексе(УНК) исследуются параметры только фазовых ГОЭ-ДОЭ, характеризующихся поверхностным микрорельефом, имеющим нанометрический профиль.
Область применения ГОЭ-ДОЭ:

  1. Дифракционные решетки, плоские микропризмы, плоские цилиндрические микролинзы, для деления и фокусировки лазерных и оптических пучков.
  2. Микролинзовые растры для матричных лазерных излучателей и матричных приемников изображений.
  3. Микропиксельные голограммные структуры для получения  защитных голограмм.

Основные параметры фазовых ГОЭ-ДОЭ являются:

  • усредненная глубина поверхностного микро-нано рельефа;
  • интегральный коэффициент пропускания.

Основными характеристиками являются:

  • спектральный коэффициент пропускания;
  • топограмма глубины рельефа в плоскости элемента.

    Доступные курсы

    Курс посвящен технологии ГОЭ и ДОЭ, схемам изготовления голограмм и компьютерной оптики.
    В курс входит две лекции, три лабораторные работы, три симулятора на каждую лабораторную работу.

    В курсе изложены основные моменты теории и практики формирования и исследований наноструктурированных материалов. Приведен анализ наноразмерных структур-особенностей их свойств, методов изготовления и возможностей применения в приборных устройствах. Приведена оценка различных технологических методов нанесения металлических и изоляционных слоев на поверхность опаловых матриц. Рассмотрены методы нанесения тонких пленок в вакууме и электрохимического осаждения на поверхность опаловых матриц.
    В состав курса входит четыре лекции, три лабораторные работы, тест, учебное видео и симулятор микроскопа Carl Zeiss Evo MA 10.
    В рамках курса возможно проведение сеансов обучения работе на микроскопе в соответствии с регламентом на оказание услуг.

    В курсе изложены основные моменты теории и представлены существующие микроскопы. Приведено описание принципа работы микроскопа и указаны методы световой микроскопии.
    В курс входит две лекции, четыре лабораторные работы, тест на проверку знаний, одно учебное видео и симулятор микроскопа Carl Zeiss Axio Imager Z2 Vario.
    В рамках курса возможно проведение сеансов обучения работе на микроскопе в соответствии с регламентом на оказание услуг.

    В курсе описываются базовые моменты средств и методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Приведены характеристики методов и методик микроскопии.
    В курс вошли одна лекция и одна лабораторная работа.
    В рамках курса возможно проведение сеансов обучения работе на микроскопе в соответствии с регламентом на оказание услуг.